磁致伸缩效应及其测量方法
字数 1834 2025-12-15 20:45:07
磁致伸缩效应及其测量方法
磁致伸缩效应是指铁磁性、亚铁磁性或反铁磁性材料在磁场作用下,其尺寸和形状发生变化的物理现象。其逆效应(材料形变导致其磁化状态改变)则称为逆磁致伸缩效应或压磁效应。该效应是磁能与机械能相互耦合的体现,是现代传感器、致动器、声纳换能器等器件的核心物理基础。
1. 物理本质与起源
- 核心概念:材料的磁化状态改变时,其内部原子磁矩(电子自旋)的排列方向会发生变化。这种排列变化会导致原子间距离的微小调整,从而在宏观上表现为材料长度或体积的变化。
- 微观解释:源于电子自旋-轨道耦合与晶体场效应的共同作用。自旋磁矩与轨道运动耦合,使得原子(或离子)的磁各向异性能与晶格应变能相互关联。当外加磁场改变磁矩方向以降低磁能时,晶格也会发生相应的应变以降低总的自由能。
- 关键参数:磁致伸缩系数 λ,通常定义为 λ = ΔL / L,即材料在饱和磁化状态下,沿磁场方向的相对长度变化量。λ 可为正(伸长,如铁)或负(缩短,如镍)。
2. 效应分类与典型材料
- 线性磁致伸缩:最常见类型,指材料在磁场中沿磁场方向发生的单向性伸缩(ΔL/L)。是多数工程应用的基础。
- 体积磁致伸缩:与磁化强度的平方相关,效应通常远小于线性伸缩,在铁磁居里点附近较为显著。
- “跳跃”效应:某些非晶态合金(如TbDyFe,商品名Terfenol-D)在低场下具有巨大的磁致伸缩系数(是镍的数十倍),称为巨磁致伸缩材料,是高性能致动器的关键材料。
3. 核心测量原理与实验设计思想
测量的核心目标是精确获取材料在不同磁场(H)下的应变(ε)曲线,即 λ-H 曲线或磁致伸缩回线。实验设计需解决两个核心问题:微小应变的精确检测与均匀强磁场的施加。
- 应变检测:通常需检测 10^-6 量级甚至更小的相对形变。
- 磁场环境:需提供方向、大小可控的均匀磁场,并考虑退磁因子的影响。
4. 典型测量方法详解(以标准应变片法为例)
这是一种接触式、相对直接且常用的方法。
- 实验装置:
- 电磁铁系统:提供均匀、可调(0至数千奥斯特)的直流或交流磁场。样品通常置于磁极中心。
- 样品与贴装:将待测材料加工成细长棒状(以减少退磁场)。在其表面沿轴向和横向(若需测泊松比)精密粘贴电阻应变片。
- 应变测量电路:应变片接入惠斯通电桥。应变片电阻的微小变化(ΔR/R = K * ε,K为应变片灵敏系数)会破坏电桥平衡,输出电压信号。
- 信号检测:电桥输出信号经动态电阻应变仪放大、解调,转换为电压信号,其幅值与应变成正比。
- 磁场测量:用高斯计(霍尔探头)精确测量样品位置的磁场强度 H。
- 数据记录:用 X-Y 记录仪或数据采集卡,同时记录应变信号(对应 λ)和磁场信号(H)。
- 实验步骤与关键操作:
- 样品制备与退磁:样品需经退火消除内应力。实验前进行交流退磁,从初始磁滞回线的中性状态开始测量。
- 应变片粘贴与补偿:轴向应变片为工作片,在无磁、同材料的补偿块上粘贴相同应变片作为温度补偿片,接入电桥相邻桥臂,以消除温度漂移。
- 系统校准:用标准应变模拟器校准应变仪的读数与真实应变的对应关系。
- 磁场扫描与测量:
- 缓慢、连续地增大磁场 H 至远高于技术饱和点,记录 λ 上升曲线。
- 随后缓慢减小 H 至零,再增大反向磁场,完成一个完整的磁化循环,可测得磁致伸缩回线。
- 数据处理:从饱和区域确定饱和磁致伸缩系数 λ_s。分析低场下 λ 与 H 的关系,以及磁化过程中的伸缩行为。
5. 其他先进测量方法简介
- 光学干涉法(如激光干涉仪):非接触式,精度极高(可达10^-12量级应变)。利用光学干涉条纹移动来测量样品表面的微小位移。适用于薄膜、小尺寸样品或高频动态测量。
- 电容法:将样品形变转化为平行板电容器极板间距的变化,通过测量电容变化反推应变。灵敏度高,但对机械稳定性要求极高。
- 应变传感器集成法:将半导体应变计或光纤光栅(FBG)传感器与样品集成,适用于恶劣环境或特殊结构的在线监测。
6. 应用与意义
理解并精确测量磁致伸缩效应,是设计和优化相关功能器件的前提:
- 换能器:声纳发射器、超声波发生器(将电磁能转化为机械振动)。
- 致动器:精密定位平台、阀门控制、主动减振系统(通过控制磁场实现微米级位移)。
- 传感器:基于逆磁致伸缩效应,制作扭矩传感器、应力检测仪。
- 基础研究:用于研究磁性材料的磁各向异性、相变、磁畴结构演化等。